Ihre Suche nach „Test Bankia“ in „Elekronik, Elektrotechnik & Nachrichtentechnik“
CMOS Test and Evaluation
Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen
Fr. 201.00
High-Voltage Test and Measuring Techniques
Wolfgang Hauschild, Eberhard Lemke
Fr. 130.00
Design für Testbarkeit, Fehlersuche und Zuverlässigkeit
Rolf Drechsler, Sebastian Huhn
Fr. 134.90
CTL for Test Information of Digital ICs
Rohit Kapur
Fr. 130.90
Fr. 44.90
Fr. 177.00
A Designer's Guide to Built-In Self-Test
Charles E. Stroud
Fr. 236.00
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
Ireneusz Mrozek
Fr. 59.00
Fr. 177.00
Lightning Engineering: Physics, Computer-based Test-bed, Protection of Ground and Airborne Systems
Paul Hoole, Samuel Hoole
Fr. 177.00
Lightning Engineering: Physics, Computer-based Test-bed, Protection of Ground and Airborne Systems
Paul Hoole, Samuel Hoole
Fr. 130.00
Test- und Prüfverfahren in der Elektronikfertigung
Mario Berger, Stefan Meissner
Fr. 44.90
Transformation von Multiphysics-Modellen in einen FPGA-Entwurf für den echtzeitfähigen HiL-Test eingebetteter Systeme
Christian Köllner
Fr. 53.90
Test und Testbarkeit digitaler Schaltungen
Hans Wojtkowiak
Fr. 62.50
Test eines Faraday-Effekt-Stromsensors
Reiner Thiele
Fr. 18.90
Fertigung und Test elektronischer Baugruppen
Leonhard Stiny
Fr. 29.90
The Arduino-Inside Measurement Lab
Burkhard Kainka
Fr. 29.95
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology
Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen
Fr. 153.50
Raspberry Pi 4 OR 5 AND Pico
Günter Spanner
Fr. 44.95
Effizienter Regressionstest von E/E-Systemen nach ISO 26262
Ralf Nörenberg
Fr. 69.90
Protocol Specification and Testing
Katalin Tarnay
Fr. 118.00
High Performance Memory Testing
R. Dean Adams
Fr. 177.00
Design of Analog Fuzzy Logic Controllers in CMOS Technologies
Carlos Dualibe, Michel Verleysen, P. Jespers
Fr. 177.00
Industrial Process Identification and Control Design
Tao Liu, Furong Gao
Fr. 177.00
System-Level Validation
Mingsong Chen, Xiaoke Qin, Heon-Mo Koo, Prabhat Mishra
Fr. 134.90
Design and Test Strategies for 2D/3D Integration for NoC-based Multicore Architectures
Kanchan Manna, Jimson Mathew
Fr. 59.00
Fr. 177.00
Fr. 94.50
Testverfahren in der Mikroelektronik
Wilfried Daehn
Fr. 58.00