Testverfahren in der Mikroelektronik
Methoden und Werkzeuge
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Produktdetails
Produktinformationen zu „Testverfahren in der Mikroelektronik “
Inhaltsverzeichnis zu „Testverfahren in der Mikroelektronik “
Inhaltsverzeichnls.- 1 Einführung und Abgrenzung.- 1.1 Testen im Produktionsablauf.- 1.2 Begriffsklärung und Abgrenzung.- 2 Fehlermodelle.- 2.1 Funktionsfehlermodell.- 2.2 Haftfehlermodell.- 2.3 CMOS-Unterbrechungsfehler.- 2.4 Verzögerungsfehler.- 3 Testmusterberechnung.- 3.1 Testmusterberechnung für kombinatorische Schaltungen.- 3.2 Testmusterberechnung für sequentielle Schaltungen.- 4 Fehlersimulation.- 4.1 Simulationsmethoden.- 4.2 Serielle Fehlersimulation.- 4.3 Fehlerparallele Fehlersimulation.- 44 Musterparallele Fehlersimulation.- 4.5 Deduktive Fehlersimulation.- 4.6 Nebenläufige Fehlersimulation.- 4.7 Simulation it einer Fehlerstichprobe.- 5 Testbarkeitsanalyse.- 5.1 Steuerbarkeit, Beobachtbarkeit, und Testbarkeit kombinatorischer Schaltungen.- 5.2 Statistische Verfahren zur Testbarkeitsanalyse.- 5.3 Probabilistische Verfahren.- 5.4 Charakterisierung schwer erkennbarer Fehler.- 6 Testfreundlicher Entwurf.- 6.1 Testfreundlicher Entwurf zur Vereinfachung der Fehlermodellierung.- 6.2 Testfreundlicher Entwurf zur Vereinfachung der Testanwendung.- 6.3 Testfreundlicher Entwurf zur Vereinfachung der Testmusterberechnung.- 7 Selbsttest integrierter Schaltungen.- 7.1 Architektur selbsttestender Schaltungen.- 7.2 Testmustergeneratoren für den eingebauten Selbsttest.- 7.3 Testdatenkompression.- 7.4 Blockselbsttestverfahren.- A1 Hypergeometrisch und binomial verteilte Zufallsvariable.- A2 Wahrscheinlichkeitsfunktion und Momente betavermeilter Zufallsvariabler.- A3 Primitive Polynome bis zum Grad 258.- Literatur.
Bibliographische Angaben
- Autor: Wilfried Daehn
- 2012, Softcover reprint of the original 1st ed. 1997, XI, 219 Seiten, 139 Abbildungen, Masse: 15,6 x 23,5 cm, Kartoniert (TB), Deutsch
- Verlag: Springer, Berlin
- ISBN-10: 3642644562
- ISBN-13: 9783642644566
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