Scanning Electron Microscopy / Springer Series in Optical Sciences Bd.45 (PDF)
Physics of Image Formation and Microanalysis
(Sprache: Englisch)
Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interations. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents,...
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Produktdetails
Produktinformationen zu „Scanning Electron Microscopy / Springer Series in Optical Sciences Bd.45 (PDF)“
Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interations. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
Bibliographische Angaben
- Autor: Ludwig Reimer
- 2013, 2nd ed. 1998, 529 Seiten, Englisch
- Verlag: Springer Berlin Heidelberg
- ISBN-10: 3540389679
- ISBN-13: 9783540389675
- Erscheinungsdatum: 11.11.2013
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eBook Informationen
- Dateiformat: PDF
- Grösse: 57 MB
- Ohne Kopierschutz
- Vorlesefunktion
Sprache:
Englisch
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