Failure Analysis / De Gruyter STEM (ePub)
The book presents a unique view of failure analysis of high technology devices. It describes capabilities and limitations of many analytical techniques and testing paths and decisions best followed in example failure analysis studies.
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The book presents a unique view of failure analysis of high technology devices. It describes capabilities and limitations of many analytical techniques and testing paths and decisions best followed in example failure analysis studies.
- Autoren: Daniel J. D. Sullivan , Eric J. Carleton
- 2022, 128 Seiten, Englisch
- Verlag: Walter de Gruyter
- ISBN-10: 1501516477
- ISBN-13: 9781501516474
- Erscheinungsdatum: 24.10.2022
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- Dateiformat: ePub
- Grösse: 8.76 MB
- Ohne Kopierschutz
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