Analytische Transmissionselektronenmikroskopie (PDF)

Jürgen Thomas studierte an der Technischen Universität Dresden Physik. Bereits im Studium schloss er Bekanntschaft mit der Elektronenmikroskopie und diplomierte und promovierte bei Prof. Alfred Recknagel in Dresden mit Arbeiten zur Elektronenmikroskopie und zu Elektron-Festkörper-Wechselwirkungen. Anschliessend war er in der Industrieforschung für die Entwicklung von Elektronenstrahlschweiss- und Vakuumtechnologien verantwortlich. Nach einigen Jahren wandte er sich wieder der Elektronenmikroskopie zu und trat in das jetzige Leibniz-Institut für Festkörper- und Werkstoffforschung (IFW) Dresden ein, wo er mehrere Jahrzehnte im Labor für analytische Transmissionselektronenmikroskopie arbeitete.
Thomas Gemming studierte an der Technischen Hochschule Karlsruhe Physik. Er promovierte auf dem Gebiet der höchstauflösenden Transmissionselektronenmikroskopie am Max-Planck-Institut für Metallforschung in Stuttgart bei Prof. Manfred Rühle. Anschliessend erweiterte er als wissenschaftlicher Mitarbeiter sein Arbeitsgebiet auf die analytische Elektronenmikroskopie. Wenig später wechselte er an das Leibniz-Institut für Festkörper- und Werkstoffforschung (IFW) Dresden, wo er heute die Abteilung Strukturanalyse leitet. Ausserdem ist er Geschäftsführer der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie e.V.