Advances in Scanning Probe Microscopy / Advances in Materials Research Bd.2 (PDF)
(Sprache: Englisch)
This book covers several of the most important topics of current interest in the forefront of scanning probe microscopy. These include a realistic theory of atom-resolving atomic force microscopy (AFM), fundamentals of MBE growth of III-V compound...
sofort als Download lieferbar
eBook (pdf)
Fr. 118.00
inkl. MwSt.
- Kreditkarte, Paypal, Rechnung
- Kostenloser tolino webreader
Produktdetails
Produktinformationen zu „Advances in Scanning Probe Microscopy / Advances in Materials Research Bd.2 (PDF)“
This book covers several of the most important topics of current interest in the forefront of scanning probe microscopy. These include a realistic theory of atom-resolving atomic force microscopy (AFM), fundamentals of MBE growth of III-V compound semiconductors and atomic manipulation for future single-electron devices.
Bibliographische Angaben
- 2012, 2000, 343 Seiten, Englisch
- Herausgegeben: T. Sakurai, Y. Watanabe
- Verlag: Springer Berlin Heidelberg
- ISBN-10: 3642569498
- ISBN-13: 9783642569494
- Erscheinungsdatum: 06.12.2012
Abhängig von Bildschirmgrösse und eingestellter Schriftgrösse kann die Seitenzahl auf Ihrem Lesegerät variieren.
eBook Informationen
- Dateiformat: PDF
- Grösse: 41 MB
- Ohne Kopierschutz
- Vorlesefunktion
Sprache:
Englisch
Kommentar zu "Advances in Scanning Probe Microscopy / Advances in Materials Research Bd.2"
0 Gebrauchte Artikel zu „Advances in Scanning Probe Microscopy / Advances in Materials Research Bd.2“
| Zustand | Preis | Porto | Zahlung | Verkäufer | Rating |
|---|
Schreiben Sie einen Kommentar zu "Advances in Scanning Probe Microscopy / Advances in Materials Research Bd.2".
Kommentar verfassen