Surface Analysis Methods in Materials Science
(Sprache: Englisch)
Dieser detaillierte Führer beschreibt die bedeutenderen experimentellen Oberflächentechniken, die in der Werkstoffkunde bei der Lösung spezieller Probleme eingesetzt werden. Er enthält eine Einführung in die Strukturen von Oberflächen und deren...
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Produktinformationen zu „Surface Analysis Methods in Materials Science “
Dieser detaillierte Führer beschreibt die bedeutenderen experimentellen Oberflächentechniken, die in der Werkstoffkunde bei der Lösung spezieller Probleme eingesetzt werden. Er enthält eine Einführung in die Strukturen von Oberflächen und deren Zusammensetzung, spezielle Kapitel über Techniken und einen ausführlichen Abschnitt über Anwendungen. Das Werk stellt somit eine umfassende Zusammenfassung dar, die den neuesten Stand des Forschungsgebietes wiedergibt. Es ist für Werkstofforscher und Oberflächenphysiker von besonderem Interesse.
Klappentext zu „Surface Analysis Methods in Materials Science “
This guide to the use of surface analysis techniques, now in its second edition, has expanded to include more techniques, current applications and updated references. It outlines the application of surface analysis techniques to a broad range of studies in materials science and engineering. The book consists of three parts: an extensive introduction, a techniques section and a section on applications. Each chapter has been written by specialists in the field. This book is aimed at industrial scientists and engineers in R&D seeking a description of available techniques in a concise but informative style. It is invaluable as a comprehensive text for scientists and engineers attending training courses and workshops. The level and content of this book make it ideal as a course text for senior undergraduate and postgraduate students in materials science, materials engineering, physics, chemistry and metallurgy.
Inhaltsverzeichnis zu „Surface Analysis Methods in Materials Science “
Part I: Introduction: Solid Surfaces, Their Structure and Composition- UHV Basics
Part II: Techniques: Electron Microscope Techniques
- Sputter Depth Profiling
- SIMS
- AES
- XPS
- Vibrational Spectroscopy
- RBS
- Scanned Probe Analysis
- Low Energy Ion Scattering
- RHEED
- LEED
- UPS
- EXAFS
Part III: Processes and Applications Minerals, Ceramics and Glasses
- Catalysts
- Semiconductor Devices
- Oxidised Surfaces
- Coated Steel
- Thin Films
- Adsorbed Species
- Polymers
- Glow Discharge Optical Emission Spectrometry.
Bibliographische Angaben
- 2003, 2nd ed., 585 Seiten, Masse: 16 x 24,1 cm, Gebunden, Englisch
- Herausgegeben:O'Connor, D.J.; Sexton, Brett A.; Smart, Roger S.C.
- Herausgegeben: D. J. O'Connor, Roger S. C. Smart, Brett A. Sexton
- Verlag: Springer
- ISBN-10: 3540413308
- ISBN-13: 9783540413301
- Erscheinungsdatum: 23.04.2003
Sprache:
Englisch
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