Fr. 5.-¹ Rabatt bei Bestellungen per App
Gleich Code kopieren:

Kelvin Probe Force Microscopy

From Single Charge Detection to Device Characterization (Sprache: Englisch)
 
 
Merken
Merken
 
 
This book provides a comprehensive introduction to the methods and variety of Kelvin probe force microscopy, including technical details. It also offers an overview of the recent developments and numerous applications, ranging from semiconductor materials,...
Jetzt vorbestellen
versandkostenfrei

Bestellnummer: 95148677

Buch (Gebunden) Fr. 236.00
inkl. MwSt.
Jetzt vorbestellen
  • Kreditkarte, Paypal, Rechnungskauf
  • 30 Tage Widerrufsrecht
 
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
Kommentar zu "Kelvin Probe Force Microscopy"
 
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
 
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
0 Gebrauchte Artikel zu „Kelvin Probe Force Microscopy“
Zustand Preis Porto Zahlung Verkäufer Rating