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46 Artikel
Fundamentals of III-V Semiconductor MOSFETs

Fundamentals of III-V Semiconductor MOSFETs

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Erschienen am 16.03.2010
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Fundamentals of Ultra-Thin-Body MOSFETs and FinFETs

Fundamentals of Ultra-Thin-Body MOSFETs and FinFETs

Jerry G. Fossum

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Erschienen am 29.08.2013
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Strain-Induced Effects in Advanced MOSFETs / Computational Microelectronics

Strain-Induced Effects in Advanced MOSFETs / Computational Microelectronics

Viktor Sverdlov

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Erschienen am 06.01.2011
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Fundamentals of Ultra-Thin-Body MOSFETs and FinFETs

Fundamentals of Ultra-Thin-Body MOSFETs and FinFETs

Jerry G. Fossum

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Erschienen am 29.08.2013
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Low Voltage Power MOSFETs / SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology

Low Voltage Power MOSFETs / SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology

Jacek Korec

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Erschienen am 30.03.2011
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Characterization Methods for Submicron MOSFETs / The Springer International Series in Engineering and Computer Science Bd.352
Bd. 352

Characterization Methods for Submicron MOSFETs / The Springer International Series in Engineering and Computer Science Bd.352

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Erschienen am 06.12.2012
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Technology Computer Aided Design

Technology Computer Aided Design

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Erschienen am 03.09.2018
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High Dielectric Constant Materials / Springer Series in Advanced Microelectronics Bd.16
Bd. 16

High Dielectric Constant Materials / Springer Series in Advanced Microelectronics Bd.16

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Erschienen am 02.11.2005
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Functional Nanomaterials and Devices for Electronics, Sensors and Energy Harvesting

Functional Nanomaterials and Devices for Electronics, Sensors and Energy Harvesting

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Erschienen am 11.09.2014
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Toward Quantum FinFET

Toward Quantum FinFET

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Erschienen am 13.12.2013
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Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors

Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors

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Erschienen am 14.08.2015
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Semiconductor-On-Insulator Materials for Nanoelectronics Applications

Semiconductor-On-Insulator Materials for Nanoelectronics Applications

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Erschienen am 08.02.2011
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Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications / Springer Series in Advanced Microelectronics Bd.47
Bd. 47

Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications / Springer Series in Advanced Microelectronics Bd.47

Jacopo Franco, Ben Kaczer, Guido Groeseneken

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Erschienen am 19.10.2013
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High-k Gate Dielectric Materials

High-k Gate Dielectric Materials

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Erschienen am 17.12.2020
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High-k Gate Dielectric Materials

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Initiale

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Escapado

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Erschienen am 28.09.2007
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