Wirkung hochenergetischer Strahlung auf Halbleiterbauelemente / Mikroelektronik (PDF)
Mit dem rasch wachsenden Integrationsgrad mikroelektronischer Schaltungen steigt der mögliche Schaden durch hochenergetische Strahlung, insbesondere im Einsatzbereich von Luft- und Raumfahrttechnik, aber auch bei Kernreaktoren, in der Materialforschung und...
sofort als Download lieferbar
Printausgabe Fr. 89.90
eBook (pdf)
Fr. 43.90
inkl. MwSt.
- Kreditkarte, Paypal, Rechnung
- Kostenloser tolino webreader
Produktdetails
Produktinformationen zu „Wirkung hochenergetischer Strahlung auf Halbleiterbauelemente / Mikroelektronik (PDF)“
Mit dem rasch wachsenden Integrationsgrad mikroelektronischer Schaltungen steigt der mögliche Schaden durch hochenergetische Strahlung, insbesondere im Einsatzbereich von Luft- und Raumfahrttechnik, aber auch bei Kernreaktoren, in der Materialforschung und in der medizinischen Diagnostik und Therapie. Das Buch liefert eine fundierte Einführung, die von den physikalischen Grundlagen der Wechselwirkung von Strahlung mit Materie, über die Erklärung von Schädigungsmechanismen bis hin zur Beschreibung von Strahlungsempfindlichkeit reicht. Der starke Einfluss der verwendeten Technologie wird ebenso behandelt wie die Möglichkeit der Abschirmung und der Einfluss von Strukturverkleinerungen auf die Strahlensensibiltät.
Bibliographische Angaben
- Autor: Dietrich Bräunig
- 2013, 1989, 196 Seiten, Deutsch
- Verlag: Springer-Verlag GmbH
- ISBN-10: 3642511090
- ISBN-13: 9783642511097
- Erscheinungsdatum: 13.03.2013
Abhängig von Bildschirmgrösse und eingestellter Schriftgrösse kann die Seitenzahl auf Ihrem Lesegerät variieren.
eBook Informationen
- Dateiformat: PDF
- Grösse: 12 MB
- Ohne Kopierschutz
- Vorlesefunktion
Kommentar zu "Wirkung hochenergetischer Strahlung auf Halbleiterbauelemente / Mikroelektronik"
0 Gebrauchte Artikel zu „Wirkung hochenergetischer Strahlung auf Halbleiterbauelemente / Mikroelektronik“
| Zustand | Preis | Porto | Zahlung | Verkäufer | Rating |
|---|
Schreiben Sie einen Kommentar zu "Wirkung hochenergetischer Strahlung auf Halbleiterbauelemente / Mikroelektronik".
Kommentar verfassen