Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology VI (PDF)
(Sprache: Englisch)
GADEST 1995
Proceedings of the 6th International Autumn Meeting on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology (GADEST '95) held in Berlin, Germany, September 1995
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GADEST 1995
Proceedings of the 6th International Autumn Meeting on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology (GADEST '95) held in Berlin, Germany, September 1995
Bibliographische Angaben
- 1995, 640 Seiten, Englisch
- Herausgegeben: Hans Richter, Martin Kittler, Cor Claeys
- Verlag: Trans Tech Publications
- ISBN-10: 3035706611
- ISBN-13: 9783035706611
- Erscheinungsdatum: 13.07.1995
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eBook Informationen
- Dateiformat: PDF
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Sprache:
Englisch
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