Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology VII (PDF)
(Sprache: Englisch)
GADEST 1997
Proceedings of the 7th International Autumn Meeting on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology (GADEST '97), Spa, Belgium, October 1997
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GADEST 1997
Proceedings of the 7th International Autumn Meeting on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology (GADEST '97), Spa, Belgium, October 1997
Bibliographische Angaben
- 1997, 556 Seiten, Englisch
- Herausgegeben: Cor Claeys, Jan Vanhellemont, Hans Richter, Martin Kittler
- Verlag: Trans Tech Publications
- ISBN-10: 3035706719
- ISBN-13: 9783035706710
- Erscheinungsdatum: 25.07.1997
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eBook Informationen
- Dateiformat: PDF
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Sprache:
Englisch
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