Zielorientierte Methodiken zum Bestehen der Europäischen Eignungsprüfung (EEP)
Patentrechtliche Grundlagen für Teile A, B, C, D; Principles of Patent Law for Parts A, B, C, D
(Sprache: Englisch, Deutsch)
Zum WerkFür alle Teilnehmer der Europäischen Eignungsprüfung (EEP) bietet das neue Werk zielorientierte Methodiken zum Bestehen der EEP in den Teilen A, B, C und D. Alle prüfungsrelevanten Themen sind in deutscher und englischer Sprache synoptisch...
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Zum WerkFür alle Teilnehmer der Europäischen Eignungsprüfung (EEP) bietet das neue Werk zielorientierte Methodiken zum Bestehen der EEP in den Teilen A, B, C und D. Alle prüfungsrelevanten Themen sind in deutscher und englischer Sprache synoptisch dargestellt. Besonderes Gewicht wird auf inhaltlich gut strukturierte Hilfestellungen gelegt.Besonders hilfreich: Immer dort, wo es für die Methodiken nötig ist, sind auch patentrechtliche Grundlagen erläutert. Dabei wird jeweils auf Gesetze, Rechtsprechung und Prüfungsrichtlinien verwiesen.Vorteile auf einen Blick- Schritt-für-Schritt Vorgehensweisen- Zeitangaben pro Bearbeitungsschritt- Details der Punktevergabe- Prüfungsschemata für patentrechtliche Fragen- Formulierungsvorschläge und ganze Textpassagen- Tabellen als Bearbeitungshilfen- praktische Tipps für die PrüfungZielgruppe:Für Teilnehmer der Europäischen Eignungsprüfung.
Bibliographische Angaben
- Autor: Daniel Herrmann
- 2017, 1. Auflage, 223 Seiten, Masse: 19,5 x 29,7 cm, Kartoniert (TB), Englisch/Deutsch
- Verlag: Beck Juristischer Verlag
- ISBN-10: 3406707890
- ISBN-13: 9783406707896
- Erscheinungsdatum: 24.01.2017
Sprache:
Englisch, Deutsch
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