Fr. 5.-¹ Rabatt bei Bestellungen per App
Gleich Code kopieren:

Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits

(Sprache: Englisch)
 
 
Merken
Merken
 
 
This book describes a variety of test generation algorithms for testing crosstalk delay faults in VLSI circuits. It introduces readers to the various crosstalk effects and describes both deterministic and simulation-based methods for testing crosstalk delay...
Voraussichtlich lieferbar in 3 Tag(en)
versandkostenfrei

Bestellnummer: 128616497

Buch (Kartoniert) Fr. 165.50
inkl. MwSt.
Jetzt vorbestellen
  • Kreditkarte, Paypal, Rechnungskauf
  • 30 Tage Widerrufsrecht
 
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
 
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
Kommentar zu "Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits"
 
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
 
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
0 Gebrauchte Artikel zu „Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits“
Zustand Preis Porto Zahlung Verkäufer Rating