Kamerabasierte In-situ-Überwachung gepulster Laserschweissprozesse
Dissertationsschrift
Spektrale Analysen liefern Informationen zur Auslegung eines kamerabasierten Überwachungssystems für gepulste Laserschweissprozesse. Aufbauend auf diesen prozessphysikalischen Erkenntnissen wird ein bildbasiertes, schwach-überwacht lernendes...
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Produktinformationen zu „Kamerabasierte In-situ-Überwachung gepulster Laserschweissprozesse “
Spektrale Analysen liefern Informationen zur Auslegung eines kamerabasierten Überwachungssystems für gepulste Laserschweissprozesse. Aufbauend auf diesen prozessphysikalischen Erkenntnissen wird ein bildbasiertes, schwach-überwacht lernendes Klassifikationssystem zur industriellen Prozessüberwachung anhand der Prozessabstrahlung entwickelt. Der Einsatz einer schmalbandigen Beleuchtung sowie divergenzbasierter Kantendetektionsfilter ermöglicht die Segmentierung der Prozesszonenoberfläche.
Klappentext zu „Kamerabasierte In-situ-Überwachung gepulster Laserschweissprozesse “
Spektrale Analysen liefern Informationen zur Auslegung eines kamerabasierten Überwachungssystems für gepulste Laserschweissprozesse. Aufbauend auf diesen prozessphysikalischen Erkenntnissen wird ein bildbasiertes, schwach-überwacht lernendes Klassifikationssystem zur industriellen Prozessüberwachung anhand der Prozessabstrahlung entwickelt. Der Einsatz einer schmalbandigen Beleuchtung sowie divergenzbasierter Kantendetektionsfilter ermöglicht die Segmentierung der Prozesszonenoberfläche.
Bibliographische Angaben
- Autor: Sven Gerhard Dudeck
- 2013, X, 283 Seiten, mit Abbildungen, Masse: 14,8 x 21 cm, Kartoniert (TB), Deutsch
- Verlag: KIT Scientific Publishing
- ISBN-10: 3731500191
- ISBN-13: 9783731500193
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