Advances in X-Ray Analysis.Vol.36
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Inhaltsverzeichnis zu „Advances in X-Ray Analysis.Vol.36 “
- Mathematical Techniques in XRay Spectrometry: Research in the Quantitative Analysis of Individual Particles by XRay Fluorescence Spectrometry (M. Lankosz et al.)- Analysis of Light Elements by XRay Spectrometry: XRFA of Carbon in Steels (F. Weber et al.)
- XRS Techniques and Instrumentation: Diffraction Peaks in XRay Spectroscopy (R.G.Tissot, R.P. Goehner)
- OnLine, Industrial, and Other Applications of XRS: Application of XRF in the Aluminum Industry (F.R. Feret)
- XRay Characterization of Thin Films: Grazing Incidence XRay Characterization of Materials (D.K. Bowen, M. Wormington)
- WholePattern Fitting, Phase Analysis by Diffraction Methods: Phase Identification Using WholePattern Matching (D.K. Smith et al.)
- Polymer Applications of XRD. HighTemperature and NonAmbient Applications of XRD. Stress and Strain Determination by Diffraction Methods, Peak Broadening Analysis
- XRD Techniques and Instrumentation
- 71 additional articles
- Index
Bibliographische Angaben
- 1993, 685 Seiten, 52 Schwarz-Weiss-Abbildungen, Masse: 17,8 x 25,4 cm, Gebunden, Englisch
- Herausgegeben: John V. Gilfrich, Ting C. Huang, C. R. Hubbard, M. R. James, Ron Jenkins, G. R. Lachance, Deane K. Smith
- Verlag: Springer, Berlin
- ISBN-10: 0306445719
- ISBN-13: 9780306445712
Sprache:
Englisch
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