Ihre Suche nach „Oberflächenanalyse“
Oberflächenanalyse von Si/SiGe-Schichten
Harald Sander
Fr. 41.00
Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse / Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen Bd.3049
Günther~ von&xc Bünau
Fr. 50.00
High-Resolution X-Ray Scattering
Ullrich Pietsch, Vaclav Holy, Tilo Baumbach
Fr. 156.90
Sehnsucht nach Sansibar
Micaela Jary
Fr. 5.00
Die weisse Iris / Asterix Bd.40
Fabcaro
Fr. 15.95