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Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme

Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung
 
 
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Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches. Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit sind ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch...
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