VLSI 2010 Annual Symposium
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VLSI 2010 Annual Symposium / Lecture Notes in Electrical Engineering Bd.105
Konstantinos Masselos, Michael Huebner, Amar Mukherjee, Nikolaos Voros, Nicolas Sklavos
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Fr. 120.90
Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Mohammad Tehranipoor, Ke Peng, Krishnendu Chakrabarty
Fr. 224.90
Design, Analysis and Test of Logic Circuits under Uncertainty
Smita Krishnaswamy, Igor L. Markov, John P. Hayes
Fr. 208.90
Fr. 256.90
Fr. 208.90
Fr. 224.90
Fr. 136.90
Fr. 288.90
Fr. 208.90
Embedded Systems Design for High-Speed Data Acquisition and Control
Maurizio Di Paolo Emilio
Fr. 179.90
Fr. 136.90
Fr. 192.90
- X, 346 Seiten, 27 Schwarz-Weiss-Abbildungen, Masse: 16 x 24,1 cm, Gebunden, Englisch
- Verlag: Springer Netherlands
- ISBN-10: 9400714874
- ISBN-13: 9789400714878
- Erscheinungsdatum: 10.09.2011
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