Röntgen-Pulverdiffraktometrie
Rechnergestützte Auswertung, Phasenanalyse und Strukturbestimmung
Die Beugung von Röntgenstrahlen wird zur schnellen, sicheren und zerstörungsfreien Identifikation von Festkörpern benutzt. Der Einsatz von Kleinrechnern hat vor allem in der Röntgenpulverdiffraktometrie zu Veränderungen geführt. Das vorliegende Buch befasst...
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Produktinformationen zu „Röntgen-Pulverdiffraktometrie “
Klappentext zu „Röntgen-Pulverdiffraktometrie “
Die Beugung von Röntgenstrahlen wird zur schnellen, sicheren und zerstörungsfreien Identifikation von Festkörpern benutzt. Der Einsatz von Kleinrechnern hat vor allem in der Röntgenpulverdiffraktometrie zu Veränderungen geführt. Das vorliegende Buch befasst sich einleitend mit den physikalischen Grundlagen und den bisherigen manuellen Methoden, um im Hauptteil auf die Schritte einzugehen, die bei der digitalen Auswertung von Pulverdiffraktogrammen von Bedeutung sind. Ausserdem werden moderne Methoden wie ortsempfindliche Detektoren, hochintensive Synchrotronstrahlung und Strukturverfeinerung an Pulverpräparaten (Rietveldmethode) kurz behandelt.Dieser Band ist aus mehreren Vorlesungen und Übungen des Autors entstanden. Ein praxisbezogenes Lehrbuch für Studenten der Mineralogie, Geologie, Kristallographie und Materialwissenschaft, aber auch ein Nachschlagewerk für jeden mit dieser Methode arbeitenden Wissenschaftler.
Die Beugung von Röntgenstrahlen wird heute in vielen Labors zur schnellen, sicheren und zerstörungsfreien Identifikation von Festkörperproben benutzt. Der Einsatz von Kleinrechnern (PCs) und von schnelleren Detektoren hat in der Röntgenpulverdiffraktometrie zu einer Renaissance sowohl in der Phasenanalyse von Gemischen als auch in der Strukturverfeinerung aus Pulverdaten geführt. Das Buch ist aus mehreren Vorlesungen und Übungen des Autors entstanden und dient als praxisbezogenes Lehrbuch mit zahlreichen Abbildungen Studenten der Kristallographie, Mineralogie, Geologie, Chemie und der Materialwissenschaften. Es wird ausserdem als Nachschlagewerk von jedem mit dieser Methode arbeitenden Wissenschaftler verwendet. Dies ist die zweite Auflage des Buches. Gegenüber der ersten Auflage wird die Rietveld-Methode und die neue Methode der Profilanpassung durch die Verwendung von physikalisch sinnvollen Fundamentalparametern ausführlicher behandelt.
Bibliographische Angaben
- Autoren: Rudolf Allmann , Arnt Kern
- 2002, 2. Aufl., 278 Seiten, 1 Abbildungen, Masse: 15,5 x 23,5 cm, Kartoniert (TB), Deutsch
- Verlag: Springer
- ISBN-10: 3540439676
- ISBN-13: 9783540439677
- Erscheinungsdatum: 11.09.2002
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